{"id":286,"date":"2019-06-26T18:34:20","date_gmt":"2019-06-26T18:34:20","guid":{"rendered":"https:\/\/spirola.ch\/SPIROLA_2019\/?page_id=286"},"modified":"2025-06-17T09:20:25","modified_gmt":"2025-06-17T08:20:25","slug":"teststand","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/spirola.ch\/SPIROLA_2019\/dienstleistung\/teststand\/","title":{"rendered":"Pr\u00fcfger\u00e4t und Teststand"},"content":{"rendered":"\t\t
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Pr\u00fcfger\u00e4t und Teststand<\/h1>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t
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Wir entwickeln Pr\u00fcfger\u00e4te und Testst\u00e4nde. Von der Idee bis zum Endprodukt.\u00a0<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t

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PROJEKTBEISPIEL<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Pr\u00fcfger\u00e4t<\/h3>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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Aufgabenstellung<\/span><\/span><\/span><\/strong><\/p>\n

Am Ende des Herstellprozesses einer elektronischen Leiterplatte, soll diese <\/span>vollst\u00e4ndig auf ihre Funktion hin \u00fcberpr\u00fcft werden. Die Leiterplatte soll <\/span>automatisiert getestet und der Prozessor mit seiner entsprechenden Firmware <\/span>programmiert werden. Dabei werden die Ergebnisse der einzelnen Testschritte <\/span>angezeigt und in einer zentralen Datenbank abgelegt.<\/span><\/span><\/p>\n

Realisierung<\/span><\/span><\/span><\/strong><\/p>\n

Die zu pr\u00fcfende Leiterplatte kann in eine Vorrichtung (Testadapter) eingelegt <\/span>werden, wo Pr\u00fcfnadeln gewisse Testpunkte der Leiterplatte kontaktieren. \u00dcber <\/span>diese Pr\u00fcfnadeln wird der Print mit Strom versorgt und Spannungs-, Strom-, und <\/span>Frequenzmessungen durchgef\u00fchrt. W\u00e4hrend dem Testdurchlauf wird <\/span>automatisch eine Testfirmware auf den Mikrocontroller des Prints geladen, <\/span>welcher s\u00e4mtliche elektronischen Komponenten auf der Leiterplatte auf ihre <\/span>Funktion hin pr\u00fcft. Liegen alle Testergebnisse innerhalb der zul\u00e4ssigen <\/span>Toleranz, hat die Leiterplatte den Test bestanden und wird automatisch als \u201agut\u2018 <\/span>markiert.<\/span>Weitere Leiterplatten Typen k\u00f6nnen mit der gleichen Test-Hardware getestet <\/span>werden. Daf\u00fcr muss lediglich ein anderer Wechseladapter verwendet werden.<\/span><\/span><\/p>\n

Aufgaben\/Umfang<\/span><\/span> <\/span><\/span><\/span><\/strong><\/p>\n

\u2022<\/span><\/span>Konzept und Planung des Testadapters<\/span><\/span><\/p>\n

\u2022<\/span><\/span>Erstellung und Konfiguration der einzelnen Testsequenzen in Teststand
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\u2022<\/span><\/span>Test VI\u2019s anpassen \/ neu erstellen<\/span><\/span><\/p>\n

\u2022<\/span><\/span>Anpassung der Toleranzen<\/span><\/span><\/p>\n

Eingesetzte Technologien\/Tools<\/span><\/span> <\/span><\/span><\/span><\/strong><\/p>\n

\u2022<\/span><\/span>LabVIEW<\/span><\/span><\/p>\n

\u2022<\/span><\/span>Teststand
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\u2022<\/span><\/span>PXI System von National Instruments<\/span><\/span><\/p>\n

\u2022<\/span><\/span>GPIB\/IEEE488.2 Ger\u00e4teanbindung<\/span><\/span><\/p>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/div>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t

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\"pruefgeraete-und-teststand-1\"<\/figure><\/div>
\"pruefgeraete-und-teststand-2\"<\/figure><\/div>\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t
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